PTFE 含有ニッケル及びクロムめっきを用いた金型汚染の評価

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概要

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各種のゴムによる金型汚染を定量的に評価する目的で, ポリテトラフルオロエチレンの微粒子を含有するニッケル及びクロム金型試験片を使用し, 成形試験前後のフッ素のけい光X線の強度変化から5種類のゴムによる汚染性を比較した. ニッケル金型では, シリコーンゴムは良好な結果であったが, 硫黄を含む配合ゴムでは, 汚染の進行が認められた. クロム金型では, 使用したゴムのうちニトリルゴム, 天然ゴム, シリコーンゴムでは良好な結果であったが, クロロプレンゴムでは若干汚染の進行が認められた. これらの結果は, 実用試験の結果と比較的良い一致を示したことから, 実験室規模の試料及び成形回数で各種ゴムによる金型汚染の定量的な評価が可能となった. 更に, 汚染の原因については, ニッケル金型ではニッケルと硫黄の反応が, またクロム金型ではクロロプレンゴムの塩素とクロムの相互作用及びクロロプレンゴムの脱塩素が原因であると考えられた.

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