La2-xSrxNiO4(0≦x≦1.6)の構造と電気伝導 (酸化物系超伝導物質と材料) -- (平成元年度春季大会講演特集)
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概要
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Structural and electrical properties of the system crystallizing in K<SUB>2</SUB>NiF<SUB>4</SUB> structure, La<SUB>2-x</SUB>Sr<SUB>x</SUB>NiO<SUB>4</SUB>(O≤x≤1.6) were studied. Powder x-ray diffraction data were analyzed by the Rietveld method to determine the bond lengths. Tetragonality in the lattice parameters, c/a, shows a maximum at x=0.6, while, distortion of a NiO<SUB>6</SUB> octahedron, Ni-0(2)(//c-axis)/ Ni-O(1)(//a-axis), monotonously decreases from 1.17(x=0) to 1.03(x=1.4). A metal-semiconductor transition in observed for O<x<l.2, the transition temperature decreasing from 690K(x=0) to 20K(x=1.2). For x≥1.3, the specimen show metallic behavior down to 10K.
- 社団法人 粉体粉末冶金協会の論文
著者
-
武田 保雄
三重大学工学部
-
山本 治
三重大学工学部分子素材工学科
-
菅野 了次
三重大学工学部
-
高野 幹夫
東京大学化学研究所
-
坂野 正明
三重大学工学部
-
武田 保雄
三重大学工学研究科
-
山本 治
三重大学工学部
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