25pWE-7 a-Si:H系膜における光誘起欠陥生成と低エネルギールミネッセンスの寿命分解測定(25pWE 領域,領域10合同アモルファス,不純物・格子欠陥,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在分野))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-03-01

著者

• 竹村 仁志

  山口大工

• 吉村 泰一

  山口大工

• 荻原 千聡

  山口大工

• 森垣 和失

  広島工大

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