竹村 仁志 | 山口大工

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概要

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• 荻原 千聡

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• 森垣 和夫

  広島工大

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• 森垣 和夫

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• 奥川 政裕

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• 荻原 千聡

  山口大学工学部

• 森垣 和失

  広島工大

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著作論文

• 20aYJ-9 a-Si:H膜におけるパルス光照射による光誘起欠陥生成とフォトルミネッセンス
• 28pTC-3 a-Si:H 系膜におけるサブバンドギャップパルス光照射に伴うダングリングボンド生成
• 28pTC-2 a-si:H系薄膜における光照射による発光寿命分布の変化
• 25aSA-12 a-si:H系薄膜におけるサブバンドギャップ光照射後の発光寿命分布
• 25pL-3 a-Si:H系薄膜における光誘起構造変化による発光寿命分布の変化
• 27aC-4 a-Si:H系薄膜における光照射後のフォトルミネセンスの寿命分布
• 29p-ZF-1 ナノ構造a-Si:H系薄膜における発光寿命分布の励起光波長依存性
• 25a-YE-2 パルスレーザーを用いた a-Si:H系膜における発光の寿命分布の測定
• 31p-YJ-7 ナノ構造a-Si_N_x:H系膜におけるルミネッセンス減衰と励起子
• 5a-A-6 a-Si:H系超格子膜およびバンド端変調構造膜の発光寿命の測定
• 25pWE-7 a-Si:H系膜における光誘起欠陥生成と低エネルギールミネッセンスの寿命分解測定(25pWE 領域,領域10合同アモルファス,不純物・格子欠陥,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在分野))

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