6pPSB-36 走査型トンネル顕微鏡(STM)によるSi(100)表面のGa薄膜の構造解析(表面界面結晶成長,領域9)

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-08-13

著者

• 色川 勝己

  東理大理工

• 三木 裕文

  東理大理工

• 原 紳介

  東理大理工

• 三木 裕文

  東理大

• 藤井 克匡

  東理大理工

• 河津 璋

  明大理工

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