5.2 一時/永久故障に自動再構成で対応する高信頼プロセッサ(第5章:素子特性経時劣化,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)

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概要

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• 2013-12-01

著者

• 姚 駿

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科

• 姚 駿

  奈良先端科学技術大学院大学

• 嶋田 創

  名古屋大学

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