Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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Niめっき上のSnめっき層中にはんだ付け性を低下させるへら状のNi-Sn合金生成物が成長する.この生成物はどのようなめっき種だけでなく,NiやSnの金属板でも発生することがわかった.またリフロ処理品やはんだ付け品では発生しないこともわかった.
- 2012-02-10
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