伊藤 貞則 | イトケン事務所
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概要
関連著者
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伊藤 貞則
イトケン事務所
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安井 徹
オムロン株式会社ものづくり革新本部評価・解析センタ部品評価グループ
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鈴木 雅史
オムロン(株)
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谷口 富雄
上田鍍金(株)
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伊藤 貞則
オムロン(株)
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柳井 健太郎
オムロン株式会社ものづくり革新本部評価・解析センタ部品評価グループ
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岸本 典也
オムロン株式会社ものづくり革新本部評価・解析センタ部品評価グループ
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安井 徹
オムロン(株) 業務改革本部 集中購買部信頼性チーム
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柳井 健太郎
オムロン株式会社
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伊藤 貞則
オムロン株式会社
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栗岡 秀憲
オムロン株式会社 集中購買部信頼性チーム
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芳片 敏之
奥野製薬
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村上 宏之
上田めっき(株)
著作論文
- 3-3 エンドライフ評価とステップタイム試験(セッション3「試験、故障解析、部品、要素技術の信頼性、ハードウェア面、管理手法適用事例」)
- 1-3 毛髪銀の生成伸長における硫化試験の考察(セッション1「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面(1)」)
- 2-3 鉛フリーはんだの疲労寿命と拡散の関係一考察(セッション2「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)
- 赤りん系難燃剤採用樹脂の機構部品に及ぼす影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 赤りん系難燃剤採用樹脂の機構部品に及ぼす影響(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 六価クロム検出加速試験の一考察(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 2-2 六価クロム検出加速試験の一考察(セッション2「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)
- チップタンタル電解コンデンサの信頼性比較(電子部品の信頼性,信頼性一般)
- セッション1-1 銀電極はんだコート品の硫化故障試験例(信頼性・品質3学会合同シンポジウム)
- 銀電極はんだコート品の硫化故障試験例
- ライフ・エンド評価の一考察 : ステップ・タイム評価(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 接触の信頼性(接合・接触の信頼性)
- 信頼性雑感 : 壊れ難さと壊れ方
- Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- イオンマイグレーションの成長メカニズムと試験方法(デンドライトとウィスカ)
- ウィスカ生成要因と成長メカニズム(デンドライトとウィスカ)
- Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2)
- ライフエンド評価の一考察(2) : FMEAの検討
- 1-4 Ni-Sn間のへら状生成物一考察(セッション1「試験と要素技術」)
- 日本信頼性学会関西支部2012年度第3回見学会報告 : 月桂冠株式会社
- ウィスカ生成要因と成長メカニズム
- ライフエンド評価の一考察(2) : FMEAの検討(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)