開発履歴メトリクスを用いた細粒度なFault-proneモジュール予測

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概要

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Fault-proneモジュールの予測において,ソフトウェアリポジトリから収集可能な開発履歴メトリクスは有用であることが数多くの文献で報告されている.開発履歴メトリクスには,コードに関するもの,プロセスに関するもの,開発組織に関するものなどがある.これらのメトリクスの収集はファイルレベルでは容易であるが,より細粒度なメソッドレベルでは収集が困難であった.これは,版管理システムがソースコードをファイルレベルで管理するためである.本稿では,以前に提案した細粒度履歴管理リポジトリを用いることでメソッドレベルの開発履歴メトリクスの収集を行う.オープンソースソフトウェアプロジェクトを対象に開発履歴メトリクスを細粒度モジュール(メソッドレベル)とファイルレベルで収集し,Fault-proneモジュール予測を行った.工数を考慮した評価から,細粒度モジュールでのFault-proneモジュール予測がファイルレベルに比べて有用であることを確認した.
2012-06-15

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