平均検査個数最小化を考慮したTaguchiの品質損失のもとでの計量選別型検査方式のための設計法(理論・技術)
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概要
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従来,ロット品質はロット中の不適合品数や不適合品率といった計数特性に基づき評価されてきた.この計数特性による品質評価のもとで,LTPD保証とAOQL保証という2種類の計数選別型検査方式が規定されている.これらの検査方式においては,平均検査個数が最小化されるようサンプル・サイズと合格判定基準が設計されている.一方,計数特性に基づく品質評価とは別に,Taguchiは計量特性に基づく品質評価基準として品質損失の概念を提案した.不適合品率などの計数品質基準に代わる,この計量品質基準は"Taguchiの品質損失"と呼ばれている.これを受けて,Arizono et al.はTaguchiの品質損失を保証する観点にたった新しい計量規準型検査方式を提案している.さらに,竹本らによって,計数選別型検査方式でのAOQL保証の概念に対応するTaguchiの品質損失に基づく最大期待過剰損失の上限を保証する計量選別型検査方式が提案されている.しかしながら,竹本らにおいて考察された計量選別型検査方式では,抜取検査方式はサンプル・サイズ最小化の基準により設計され,平均検査個数の最小化は考慮されていない.そこで本研究では,Taguchiの品質損失に基づく上記AOQL保証に対応する計量選別型検査方式ばかりでなく,LTPD保証に対応する計量選別型検査方式についても考察し,両検査方式における平均検査個数を最小化する2つの計量選別型検査方式の設計法を提案する.
- 2011-12-15
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