可変サンプル・サイズと可変サンプリング間隔をもつ(x^^-, s)同時管理図の設計
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概要
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工程の品質特性が正規分布に従うとき, これを管理するために確率限界法による管理限界をもつ(x^^-, s)同時管理図が金川らにより提案されている.さらに, 工程異常による任意の管理はずれ状態に関するこの(x^^-, s)同時管理図の検出力特性の評価がその後の有薗らの研究により可能となっている.一方, 工程異常をより早く検知することを目的として, 管理図からの情報に基づきサンプル・サイズやサンプリング間隔, あるいはその両方を調整する適応型管理図が各種提案されている.ただし, 従来の適応型管理図に関する多くの研究は平均特性の管理を目的としていた.これに対し, 正規分布を管理対象とする場合, 平均のみならず分散も管理対象ととらえることが必要である.これに関し, 最近x^^-管理図とR管理図を併用する場合の適応型x^^--R管理図についての研究が報告されている.ただし, 適応型x^^--R管理図では2つの特性に分けて工程を管理することからその設計パラメータは12個を数え, やや煩雑である.一方, 既述の(x^^-, s)同時管理図はただ1つの打点統計量により平均と標準偏差を同時に管理することができるため, これを適応型管理図に拡張する場合にも適応型x^^--R管理図に比べて少ない設計パラメータで記述することができる.この点に着目して本研究では, (x^^-, s)同時管理図の管理特性の改善を目的として, 管理図での状況に応じてサンプル・サイズとサンプリング間隔を調整する適応型(x^^-, s)同時管理図について考察する.
- 社団法人日本経営工学会の論文
- 1999-02-15
著者
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