21aED-3 光子から半導体中の電子スピンへの量子状態転写のプロセストモグラフィ測定実験(21aED 量子エレクトロニクス(固体量子情報処理・量子計算・量子ビット),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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概要

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• 2011-08-24

著者

• 小坂 英男

  東北大通研

• 三森 康義

  東北大通研

• 枝松 圭一

  東北大通研

• 稲垣 卓弘

  東北大通研

• 力武 克彰

  仙台高専

• 枝松 圭一

  東北大学通研

• 枝松 圭一

  東北大工

• 枝松 圭一

  東北大・工

• 小坂 英男

  Research Institute Of Electrical Communication Tohoku University

• 三森 康義

  Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University

• 三森 康義

  Research Institute Of Electrical Communication Tohoku University

• Rikitake Yoshiaki

  Crest-jst:nanotechnology Research Institute National Institute Of Advanced Industrial Science And Te

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