30pTX-10 半導体二重量子ドットにおけるスピン状態測定(30pTX 量子ドット(結合系とスピン),領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2009-03-03

著者

• 余越 伸彦

  産総研ナノテク:jst-crest

• 小坂 英男

  東北大通研

• 今村 裕志

  産総研ナノテク

• 今村 裕志

  産業技術総合研究所

• 今村 裕志

  産総研ナノシス

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