2010年度喜安記念業績賞紹介 : 誤照合率0%の顔認証技術を目指して
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2011-07-15
著者
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今岡 仁
NEC情報・メディアプロセッシング研究所
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佐藤 敦
Nec C&c メディア研究所
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佐藤 敦
NEC情報メディア研究所
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今岡 仁
NECメディア情報研究所
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森下 雄介
NEC情報・メディアプロセッシング研究所
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佐藤 敦
Nec情報システムズ(株)
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宮野 博義
NEC情報・メディアプロセッシング研究所
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