佐藤 敦 | Nec情報システムズ(株)

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• 佐藤 敦

  Nec情報システムズ(株)

• 佐藤 敦

  NEC情報メディア研究所

• 佐藤 敦

  Nec C&c メディア研究所

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• 山田 敬嗣

  Necメディア情報研究所

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• 石井 雅人

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  NEC情報・メディアプロセッシング研究所

• 今岡 仁

  NECメディア情報研究所

• 森下 雄介

  NEC情報・メディアプロセッシング研究所

• 宮野 博義

  NEC情報・メディアプロセッシング研究所

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著作論文

• 一般学習ベクトル量子化に基づく学習部分空間法
• 正準化のための学習方法と低品質印刷文字認識
• 一般学習ベクトル量子化の収束性に関する考察
• 2010年度喜安記念業績賞紹介 : 誤照合率0%の顔認証技術を目指して
• 一般損失最小化に基づくカーネル識別器の学習
• 一般損失最小化に基づくカーネル識別器の学習(テーマセッション,コンピュータビジョンとパターン認識のための機械学習)
• 一般損失最小化に基づくカーネル識別器の学習(テーマセッション,コンピュータビジョンとパターン認識のための機械学習)

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