PIXE 分析用プロトン・トラップの製作
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概要
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2〜3MeV 程度の陽子ビームを用いる粒子励起X線分析法においては, 散乱プロトンが検出器に入るのを防ぐために100μm程度の有機薄膜やアルミニウム膜を検出器の前に挿入する必要がある。しかし, アルミニウムのような軽元素からの特性X線はこれらの膜の中で容易に減衰してしまうために, この方法では測定できない。我々は軽元素からの特性X線を測定するため永久磁石を用いた小型散乱プロトン除去装置を設計製作した。2.5MeVプロトンを用いたPIXE法の測定に製作した装置を用い, その性能評価を行った。
- 2010-12-25
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