誘電体積層基板の複素誘電率の面内異方性のマイクロ波測定(学生研究会,学生研究会/一般)
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概要
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本研究では、円筒空洞共振器のTE_<111>モードを用いて、誘電体積層基板の複素比誘電率(比誘電率および誘電正接)の面内異方性の測定法を提案する。実際に、マイクロ波平面回路の構成に用いられるシクロオレフィンポリマー、ガラスクロスPTFE、液晶ポリマー基板について測定を行い、その有効性を実証する。
- 2010-09-02
著者
-
馬 哲旺
埼玉大学工学部
-
馬 哲旺
埼玉大学
-
馬 哲旺
埼玉大学工学部電気電子システム工学科
-
小林 禧夫
埼玉大学大学院理工学研究科
-
小林 禧夫
サムテック(有)埼玉大学地域オープンイノベーションセンター内
-
和田山 修平
埼玉大学工学部
-
和田山 修平
埼玉大学
-
小林 禧夫
サムテック(有)
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