単一磁束量子論理回路のための故障モデルとテストパターン生成手法の検討(信号処理基盤技術及びその応用,一般)
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概要
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本研究では,製造後のSFQ回路が正常に動作することを確認するためのテストの手法について議論する.SFQ回路は高速で,パルス論理を用いるなど通常の半導体回路とは異なる性質を持つ.このため,ジッタの影響によりゲートの入力において信号到達サイクルがずれる等の一般の半導体論理回路の故障とは異なるタイプの故障が生じ,半導体回路とは異なる故障のモデル化とテストパターンの生成法が必要になる.本研究では,SFQ回路のための故障のモデル化を行い,テスト生成について検討する.
- 2010-07-15
著者
-
田中 雅光
名古屋大学
-
高木 一義
名古屋大学大学院情報科学研究科
-
高木 直史
名古屋大学大学院情報科学研究科情報システム学専攻
-
高本 直史
名古屋大学
-
高木 直史
名古屋大学情報科学研究科
-
高木 一義
名古屋大学
-
高木 直史
名古屋大学
-
高木 直史
京都大学大学院情報学研究科
-
鬼頭 信貴
京都大学大学院情報学研究科
-
高木 直史
京都大学大学院:crest-jst
-
高木 直史
京都大学大学院
-
鬼頭 信貴
中京大学情報理工学部
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