機構デバイスにおける気密性の向上の検討 : 狭ギャップにおける液状エポキシ樹脂の挙動(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
一般的に一液性エポキシ樹脂は、エポキシモノマー・固形硬化剤と充填材としてのフィラーなどから構成される。加熱を行なうと、液状エポキシモノマーと硬化剤との化学反応により、樹脂が液体から固体へと変わるため、取り扱いが容易であり強度も高くなる。そのため、一液性エポキシ樹脂は広く電子部品の封止用接着剤として利用されている。近年、電子部品の小型化、軽量化や高密度化が進んでおり、各種部品の接着部分や封止部分における隙間が非常に狭くなっている。部品の隙間が100μm以下の狭ギャップである場合、加熱硬化処理後でも固体のエポキシ樹脂と、そこから分離したエポキシモノマーのドメインが見られることがある。一般には、このエポキシモノマーのドメインが気密性の低下をもたらすと考えられているが、そのメカニズムが明確にされていない。本報告では、部品の狭ギャップにおける液状エポキシ樹脂の分離メカニズムと、その抑制方法について報告する。
- 2010-02-12
著者
-
福原 智博
オムロン株式会社
-
大谷 修
オムロン株式会社エレクトロニック&メカニカルコンポーネンツビジネスカンパニーエンジニアリングセンタ材料技術センタ
-
中島 誠二
オムロン株式会社エレクトロニック&メカニカルコンポーネンツビジネスカンパニーエンジニアリングセンタ材料技術センタ
-
中島 誠二
オムロン株式会社エレクトロニック&メカニカルコンポーネンツビジネスカンパニーエンジニアリングセンタ材料技術センタ
-
福原 智博
オムロン(株)エレクトロニクスコンポーネンツビジネスカンパニーエンジニアリングセンタ材料技術センタ
-
大谷 修
オムロン株式会社
関連論文
- エレクトロニクスデバイスにおける接着技術 : 液晶ポリマーとエポキシ樹脂の接着性(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 機構デバイスにおける気密性の向上の検討 : 狭ギャップにおける液状エポキシ樹脂の挙動(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 機構デバイスにおける気密性の向上の検討 : 狭ギャップにおける液状エポキシ樹脂の挙動(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- エレクトロニクスデバイスにおける接着技術 : 液晶ポリマーとエポキシ樹脂の接着性(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- エレクトロニクスデバイスにおける接着技術 : 液晶ポリマーとエポキシ樹脂の接着性(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- エレクトロニクスデバイスにおける接着技術 : 液晶ポリマーとエポキシ樹脂の接着性(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- リレーの耐熱封止性に及ぼす接着剤の影響 : 接着剤組成による表面実装リレー耐熱封止性への影響(トライボロジー/一般)
- 封止接着剤の透湿性低減によるリレー封止信頼性の改善 (信頼性)
- 封止接着剤の透湿性低減によるリレー封止信頼性の改善(電子デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 機構デバイスの封止信頼性 : 表面実装リレーの湿度による封止性低下メカニズム
- 一液性エポキシ樹脂の貯蔵安定性に長鎖アルキルイミダゾール誘導体の自己組織化構造が与える影響の検証
- 一液性エポキシ樹脂の貯蔵安定性に長鎖アルキルイミダゾール誘導体の自己組織化構造が与える影響の検証
- ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善 (信頼性)
- ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善 (機構デバイス)
- ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善
- ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善