成ラット単離心筋細胞の高頻度電気刺激による細胞内Ca^<2+>およびMe^<2+>のダイナミクス

概要

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心臓の洞調律が崩れる不整脈のうち、心室頻拍や心室拍動といった心室性不整脈は心臓突然死の直接的な原因であると考えられている。多くの心室拍動は心室頻拍から移行することによって発生するが、その遷移のメカニズムについては明確になっていない。本研究室ではこれまで、ランゲンドルフ灌流心を用い、心室頻拍から心室拍動への遷移に細胞内ATPバランスの変化が関係していることを示してきた。そこで本研究では、単離した心筋細胞を用いて、高頻度電気刺激中の細胞内Ca^<2+>およびMe^<2+>のダイナミクスを計測し、細胞内Me^<2+>濃度変化より細胞内ATP濃度の変化を推定した。高頻度電気刺激中のCa^<2+>およびMg^<2+>ダイナミクスの解析によって、高頻度刺激中には細胞内イオンホメオスタシスが破綻しており、また細胞内ATPの急激な減少が生じている可能性が明らかになった。このことから高頻度電気刺激を受けた細胞内では、ミトコンドリア内での酸化的リン酸化によるATP合成機構になんらかの変調が起きている可能性が示唆された。
2010-03-02