宇宙放射線に対して高い耐性をもつ光バッファリング手法(回路構築手法・光再構成デバイス,デザインガイア2009 VLSI設計の新しい大地)
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概要
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ロケット,衛星,宇宙ステーション等で使用される組み込みデバイスは常に高いエネルギーを持つ宇宙放射線の影響を受けており,Single-event upsets(SEU),Single-event latch-ups(SEL)等の故障を想定する必要がある.そして,そういった組み込みデバイスに対して,故障発生時や仕様変更時に再プログラム可能なプログラマブルデバイスが期待されている.しかし,プログラマブルデバイスは通常のVLSIとは異なり,宇宙放射線の影響でコンテキスト情報まで破壊される危険性が常につきまとう.よって,本稿では不完全なコンテキスト情報から高速に正しく構成できる光バッファリング手法,無線高速復旧システムについて示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-11-26
著者
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