差分光再構成手法に対する不良耐性(画像再構成・映像符号化,視覚情報処理,画像メディア処理・符号化,一般)
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概要
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近年,画像処理やその他様々な分野における処理量が増大しており,それに伴う処理速度の向上が要求されている.しかし,トランジスタの微細化による集積回路の性能の向上が限界に達しつつある.そういったことから,ゲートアレイの利用効率を高めて性能向上を図る一つの手法として動的再構成デバイスが注目されている.そのような中で,我々は,ホログラムメモリ,レーザアレイ,ゲートアレイVLSIから構成される光再構成型ゲートアレイの研究を進めている.特徴として,仮想的に大規模なゲート規模を実現することができ,高速な再構成が可能という利点がある.本デバイスではホログラムメモリから回路情報を動的に読み出し,ゲートアレイVLSIを逐次的に書き換えながら処理を進めることができる.本稿では,光再構成の高速化手法の一つである差分光再構成手法が不良耐性の面で有効であることを実証する.
- 2010-03-08
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