光ファイバ母材の構造計測における障害の発生とその要因解明(研究速報)
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概要
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本論文は光ファイバの製造開発において行われている母材の内部構造の計測において,計測障害が存在し,その要因の究明を試みたので,速報するものである.理論的解析及びシミュレーションにより示すとともに,可視化による実験結果も示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-03-25
著者
-
佐々木 一正
北海道工業大学
-
水間 幸大
北海道工業大学
-
佐々木 一正
北海道工業大学大学院 工学研究科 応用電子工学専攻
-
佐々木 正
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
佐々木 一正
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
水間 幸大
北海道工業大学工学部
-
水間 幸大
北海道工業大学工学研究科応用電子工学専攻
-
田中 知朗
(株)アドヴァンストテクノロジ光ファイバ応用技術研究所
-
佐々木 一正
北海道工大 創生工
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