光ファイバ母材内部屈折率分布測定法 : 軸方向屈折率変動測定法(センサ,一般)

概要

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MCVD法やVAD法と呼ばれる光ファイバ製造技術においては,直接光ファイバを形成するのではなく,まず母材(プリフォーム)と呼ばれるロッドを作成し,この先端を加熱軟化させて線引きという作業によって光ファイバ化される.母材の内部には光ファイバとして必要な屈折率分布構造が形成されており,光ファイバはそのスケールダウンしたものと期待されている.そこで,光ファイバの開発や製造工程では母材の段階で内部構造を測定し,その情報から光ファイバの特性を予測することが行われている.しかしながら,最近開発されている光ファイバの構造は複雑であり,また,測定精度に対する要求も厳しいものがあり従来の測定方式では対処しきれなくなっている.筆者等は,そのような要求に応えるために,母材内部構造の新しい測定技術の開発を進めており,これまでに各種の方式を提案してきた.本稿はその一環として軸方向の屈折率変動を測定する方式を提案するものである.実際,VAD母材では軸方向にガラス成分を堆積させるため軸方向の屈折率変動を内在しているが,これまでにその大きさを精密に評価されたことがなかった.ここではDタイプと呼ぶ新技術の原理と測定結果例を報告する.
2003-05-22