30aRD-9 極低温STS測定によるPt/HOPGの電子状態解析(30aRD 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2009-03-03
著者
-
岡田 晋
筑波大学大学院数理物質科学研究科
-
中村 潤児
筑波大学物質工学系
-
岡田 晋
筑波大計科セ:crest
-
近藤 剛弘
筑波大学大学院数理物質科学研究科
-
中村 潤児
筑波大学大学院数理物質科学研究科
-
本間 裕二郎
筑波大院数理
-
中村 潤児
筑波大学大学院数理物質科学研究科物性分子工学専攻
-
高木 祥光
筑波大計科セ:crest
-
本間 裕二郎
筑波大学数理物質
-
岩崎 陽介
筑波大学数理物質
-
高木 祥光
筑波大学数理物質
-
岡田 晋
筑波大学数理物質
-
近藤 剛弘
筑波大学数理物質
-
中村 潤児
筑波大学数理物質
-
岩崎 陽介
筑波大院数物
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