高リカバリ耐量ダイオードの開発(パワーエレクトロニクス及び半導体電力変換一般)
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概要
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This study investigated the destruction of FWDs in the termination region during reverse recovery, with the aim of enabling the fabrication of FWDs with a high current density and high reverse recovery capability. An investigation carried out by device simulation clarified that a high hole current in the termination region during reverse recovery leads to a dynamic avalanche, which may result in the destruction of the FWD. This study also demonstrated that FWDs fabricated using two concepts based on this understanding have a high current density and high reverse recovery capability without sacrificing basic characteristics.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-10-16
著者
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