低損失、低サージ電圧にむけたダイオードの電子およびホール欠陥の研究
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2012-10-25
著者
-
亀山 悟
トヨタ自動車
-
平原 文雄
株式会社東芝
-
久保 友裕
株式会社東芝
-
原 雅史
トヨタ自動車株式会社
-
海老根 淳平
トヨタテクニカルディベロップメント株式会社
-
村上 浩一
トヨタテクニカルディベロップメント株式会社
関連論文
- 高リカバリ耐量ダイオードの開発
- 高リカバリ耐量ダイオードの開発(パワーエレクトロニクス及び半導体電力変換一般)
- 低損失、低サージ電圧にむけたダイオードの電子およびホール欠陥の研究
- 低損失、低サージ電圧にむけたダイオードの電子およびホール欠陥の研究