水の吸着と絶縁信頼性(第11回信頼性シンポジウムREAJ)
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概要
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本報告は環境試験におけるプリント配線板の絶縁抵抗特性とイオンマイグレーション発生に関する報告である。著者らは、様々な環境試験条件における絶縁抵抗を測定した結果、絶縁抵抗値の初期的変化が水の吸着と電気分解に関係することを明らかにした。また、イオンマイグレーション発生に関して、金属イオンの溶出は、水の電気分解による電極近傍のpH変化によっておこり印加電圧およびpHに影響されることが確認された。
- 日本信頼性学会の論文
著者
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青木 雄一
エスペック株式会社技術開発本部信頼性研究室
-
山本 繁晴
山本経営技術研究所
-
田中 浩和
エスペック
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青木 雄一
タバイエスペック株式会社
-
田中 浩和
タバイエスペック株式会社
-
猪木 寛子
タバイエスペック株式会社環境試験技術センター信頼性研究室
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田中 浩和
エスペック株式会社
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