2.1 EB電流吸収法によるLSIの故障解析事例(セッション2「故障解析2」)

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概要

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• 日本信頼性学会の論文
• 2003-05-25

著者

• 水越 克郎

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 小山田 太郎

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 寄崎 眞吾

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 嶋瀬 朗

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 真島 敏幸

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 嶋瀬 朗

  (株)ルネサステクノロジ

• 真島 敏幸

  (株)ルネサステクノロジ

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