真島 敏幸 | (株)ルネサステクノロジ

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概要

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関連著者

• 嶋瀬 朗

  (株)ルネサステクノロジ

• 真島 敏幸

  (株)ルネサステクノロジ

• 水越 克郎

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 小山田 太郎

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 寄崎 眞吾

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 寺田 浩敏

  浜松ホトニクス株式会社

• 嶋瀬 朗

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 真島 敏幸

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 堀田 和宏

  浜松ホトニクス(株)

• 寺田 浩敏

  浜松ホトニクス(株)

• 佐伯 光章

  (株)ルネサステクノロジ

• 内角 哲人

  (株)ルネサステクノロジ

• 渡會 慎一

  (株)ルネサステクノロジ

• 鈴木 猛司

  (株)ルネサステクノロジ

• 野副 真理

  株式会社日立製作所中央研究所

• 松本 賢和

  株式会社ルネサステクノロジ実装・テスト技術統括部

• 小柳 肇

  株式会社日立製作所中央研究所

• 水越 克郎

  (株)ルネサステクノロジ

• 小山田 太郎

  (株)ルネサステクノロジ

• 寄崎 眞吾

  (株)ルネサステクノロジ

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著作論文

• 発光/OBIRCH解析とCADデータとの連動によるレイアウト解析の容易化(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 発光/OBIRCH解析とCADデータとの連動によるレイアウト解析の容易化(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 発光/OBIRCH解析とCADデータとの連動によるレイアウト解析の容易化
• 電子ビーム吸収電流解析によるLSI配線の不良位置特定(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• 電子ビーム吸収電流解析によるLSI配線の不良位置特定(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• 2.1EB電流吸収法によるLSIの故障解析事例(セッション2「故障解析2」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
• 2.1 EB電流吸収法によるLSIの故障解析事例(セッション2「故障解析2」)

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