液晶セルの残留DCの評価
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概要
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等価回路を用いたシミュレーションと配向膜の異なる3種類のセルに対する残留DCの測定結果より、残留DC現象について考察した。液晶セルにDC電圧を印加すると、界面分極及び双極子分極が生じる。数分程度の残留DCについては、この分極によって説明できる。この分極自体はある程度の時間で緩和するが、界面分極に寄与した液晶層中のイオンの一部が液晶層と配向膜との界面に吸着される。一時間以上の長時間経過後に観測される残留DCは、この吸着されたイオンによる電気ポテンシャルで説明することが出来る。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1999-03-19
著者
-
高木 敏行
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
-
中園 祐司
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
沢田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
苗村 省平
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
苗村 省平
メルク(株)液晶事業部厚木テクニカルセンター
-
苗村 省平
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
-
沢田 温
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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澤田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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高木 敏行
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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