苗村 省平 | メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
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概要
関連著者
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苗村 省平
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
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苗村 省平
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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苗村 省平
メルク(株)液晶事業部厚木テクニカルセンター
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沢田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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沢田 温
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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澤田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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澤田 温
メルク・ジャパン(株)
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中園 祐司
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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一ノ瀬 秀男
メルク
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一ノ瀬 秀男
メルク・ジャパン
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Naemura Shohei
メルク・ジャパン株式会社液晶テクニカルセンター
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高木 敏行
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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真辺 篤孝
Merck KGaA, Liquid Crystal Research, Business Unit Liquid Crystal
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真辺 篤孝
Merck Kgaa Liquid Crystal Research Business Unit Liquid Crystal
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真辺 篤孝
Liquid Crystal Research Business Unit Liquid Crystals Merck Kgaa Germany Frankfurter Strasse 250 642
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高木 敏行
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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佐藤 博茂
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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佐藤 博茂
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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木村 良子
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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樽見 和明
Merck Kgaa
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Tarumi K
Merck Kgaa Darmstadt Deu
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Pausch Axel
Liquid Crystal Research Business Unit Liquid Crystals Merck Kgaa Germany
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苗村 省平
メルク・ジャパン株式会社
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大桐 小百合
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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大桐 小百合
メルク・ジャパン(株)
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沼田 宏
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
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西川 研一
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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西川 研一
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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真辺 篤孝
Merck Kgaa
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加藤 裕司
日本電気(株)光エレクトロニクス研究所
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加藤 裕司
日本電気(株)カラー液晶推進開発本部
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中島 紳二
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
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Tarumi Kazuaki
Liquid Crystals Division Liquid Crystal Research
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杉山 靖
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
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Tarumi Kazuaki
Liquid Crystal Research Business Unit Liquid Crystals
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小林 恵子
メルク・ジャパン液晶テクニカルセンター
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小林 恵子
メルク・ジャパン(株)液晶テクニカルセンター
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武田 貴徳
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
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長部 明生
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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小林 恵子
メルク・ジャパン
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長部 明生
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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苗村 省平
メルク・ジャパン液晶テクニカルセンター
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Tarumi Kazuaki
Liquid Crystal Research Business Unit Liquid Crystals Merck Kgaa
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Rieger B.
メルク・ジャパン液晶テクニカルセンター
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Finkenzeller U.
Department of Liquid Crystal Reserch, IC Division
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苗村 省平
日本電気(株)・光エレ研
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一ノ瀬 秀男
日本電気(株)光エレクトロニクス研究所
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中村 豊一
日本電気(株)・材料部品分析評価センター
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中園 裕司
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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Pausch Axel
Liquid Crystal Research, Business Unit Liquid Crystals, Merck KGaA
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Finkenzeller U.
Department Of Liquid Crystal Reserch Ic Division
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加藤 裕司
日本電気・カラー液晶
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高木 敏之
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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Tarumi Kazuaki
LC Research, BU LC, Merck KGaA
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樽見 和明
LC Research, BU LC, Merck KGaA
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Gotzmann W.
Analytical Central Laboratory, E. Merck Darmstadt
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小島 昭博
メルク・ジャパン厚木研
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Rieger B.
Department of Liquid Crystal Reserch, IC Division
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Jacob T.
Department of Liquid Crystal Reserch, IC Division
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吉竹 廣輝
メルク・ジャパン厚木研
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Geelhaar T.
Department of Liquid Crystal Reserch, IC Division
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Weber G.
Department of Liquid Crystal Reserch, IC Division
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Scheuble B.
Department of Liquid Crystal Reserch, IC Division
-
Scheuble B.
メルク・ジャパン厚木研
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Finkenzeller U.
E. Merck Darmstadt
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Poetsch E.
E. Merck Darmstadt
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Kurmeier A.
E. Merck Darmstadt
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加藤 裕司
日電
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苗村 省平
日電
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中村 豊一
日電
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一ノ瀬 秀男
日電
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中村 豊一
日本電気・機能エレ研
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一ノ瀬 秀男
日本電気・機能エレ研
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Rieger Bernhard
メルク・ジャパン(株)液晶テクニカルセンター
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苗村 省平
日本電気・光エレ研
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飯島 雅弘
メルク・ジャパン(株)
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パウシュ アクセル
Merck KGaA
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仲園 祐司
メルク・ジャパン
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ーノ瀬 秀男
メルク・ジャパン株式会社液晶テクニカルセンター
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大山 隆雅
メルク・ジャパン厚木研
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Plach H.
Department of Physical and inorganic Reserch, IC Division, E. Merek Darmstadt
-
苗村 省平
メルク・ジャパン株式会社厚木研究所液晶技術部
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Plach H.
Department Of Physical And Inorganic Reserch Ic Division E. Merek Darmstadt
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Gotzmann W.
Analytical Central Laboratory E. Merck Darmstadt
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Geelhaar T.
Department Of Liquid Crystal Reserch Ic Division
-
Scheuble B.
Department Of Liquid Crystal Reserch Ic Division
-
Rieger B.
Department Of Liquid Crystal Reserch Ic Division
-
Weber G.
Department Of Liquid Crystal Reserch Ic Division
-
吉竹 廣輝
メルク・ジャパン(株)
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中園 祐司
メルク・ジャパン株式会社液晶テクニカルセンター
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Jacob T.
Department Of Liquid Crystal Reserch Ic Division
著作論文
- 液晶セルの残留DCの評価
- 液晶セル中のイオンの生成メカニズムに関する考察
- 3)液晶材料に流れる定常電流に対する実験的検討(情報ディスプレイ研究会)
- 4)負の誘電異方性を有する液晶材料の残留DC特性の評価(情報ディスプレイ研究会)
- 液晶材料に流れる定常電流に対する実験的検討
- 液晶材料に流れる定常電流に対する実験的検討
- 負の誘電異方性を有する液晶材料の残留DC特性の評価
- 負の誘電異方性を有する液晶材料の残留DC特性の評価
- 負の誘電異方性を有する液晶材料の残留DC特性の評価
- 液晶セル中のイオンの生成メカニズムに関する考察
- 2PA02 液晶セルの交流導電率の電圧依存性
- 3F113 ネマティック液晶のUV-stability
- 2K215 フッ素系液晶性化合物の物性的諸特性
- Asia Display/IDW' 01会議報告(会議レポート)(映像現場訪問記)
- 液晶中の可動性微量イオンの定量評価
- 3)液晶材料の最近の動向(情報ディスプレイ研究会)
- 液晶材料の最近の動向
- 2L305 ECBディスプレイ用液晶混合物
- 2C22 トリフルオロメトキシ基を有する液晶材料の諸特性
- 3D118 ネマチック液晶の対光性とLCDの電荷保持特性に及ぼす影響
- 高コントラスト時分割駆動型強誘電性液晶光シャッタアレイ : "画像変換装置"合同研究会 : 電子装置 : 画像表示
- 14)強誘電性液晶を用いたリニア・光シャッタ・アレイ([テレビジョン電子装置研究会画像表示研究会]合同)
- 3Z08 強誘電性液晶素子の光学特性に及ぼす界面の影響
- 強誘電性液晶を用いたリニア・光シャッタ・アレイ
- フィールドシーケンシャル駆動用高複屈折、低回転粘性液晶の開発
- フィールドシーケンシャル駆動用高複屈折、低回転粘性液晶の開発
- フィールドシーケンシャル駆動用高複屈折、低回転粘性液晶の開発
- 1C13 フィールドシーケンシャル駆動用高複屈折率、低回転粘性液晶の検討
- IDMC '02の概要(CIC, 旧STDPおよびIDMC合同報告会)
- IDMC'02の概要
- 高抵抗を有する超高純度液晶材料(発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)
- 高抵抗を有する超高純度液晶材料
- 高抵抗を有する超高純度液晶材料
- 1PA08 Frank弾性定数の分子動力学シミュレーション
- SID 2001 概要
- 学会と企業
- 1A19 4-cyano-4'-n-pentylbiphenyl (5CB)のネマチック相における低周波誘電特性の解析
- 高複屈折性液晶材料の光安定性に関する研究
- 高複屈折性液晶材料の光安定性に関する研究
- 高複屈折性液晶材料の光安定性に関する研究
- 空間電荷分極が液晶セル内の電場分布に及ぼす影響の考察
- 空間電荷分極が液晶セル内の電場分布に及ぼす影響の考察
- 1B02 液晶材料の誘電緩和特性に影響を及ぼす物性パラメータの検討
- TNセルにおけるしきい値電圧の周波数特性に及ぼす可動性イオンの影響
- TNセルにおけるしきい値電圧の周波数特性に及ぼす可動性イオンの影響
- 1-11b TBAI (tetrabutyl-ammonium-iodide) を含む液晶材料の低周波誘電特性
- 液晶材料の低周波誘電特性に及ぼす複数種イオンの影響
- 液晶材料の低周波誘電特性に及ぼす複数種イオンの影響
- 8)液晶材料の低周波誘電特性におよぼす可動性イオンの影響(情報デイスプレイ研究会)
- 3)負の誘電異方性を有する液晶材料の電圧保持特性(情報ディスプレイ研究会)
- 液晶材料の低周波誘電特性におよぼす可動性イオンの影響
- 液晶材料の低周波誘電特性におよぼす可動性イオンの影響
- 6)AM-LCDの表示焼き付きに及ぼす液晶材料特性の影響(情報ディスプレイ研究会 : 発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)
- 負の誘電異方性を有する液晶材料の電圧保持特性
- 負の誘電異方性を有する液晶材料の電圧保持特性
- 負の誘電異方性を有する液晶材料の電圧保持特性
- 低電圧駆動用高安定性液晶材料
- 低電圧駆動用高安定性液晶材料
- AM-LCDの表示焼き付きに及ぼす液晶材料特性の影響
- AM-LCDの表示焼き付きに及ぼす液晶材料特性の影響
- シアノ系液晶材料の複素誘電率の周波数特性
- 2F119 各種ネマティック液晶材料のプレチルト特性
- 2L308 STN-LCDの表示特性と液晶材料物性
- 3B09 STN-LCDにおけるd/pマージンの考察
- 液晶表示材料 : 次世代の液晶化合物への道(表示材料の進歩)
- 液晶材料の光学的・電気的物性
- SID '98会議報告
- SID2001概要
- 1st IDMCと20th IDRC
- 1-2-2 液晶材料(1-2 ディスプレイデバイスを支える材料の開発動向)(情報化社会を演出するディスプレイ)
- S3-1 液晶材料