AM-LCDの表示焼き付きに及ぼす液晶材料特性の影響
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概要
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AM-LCDの電圧保持率低下及び表示焼き付の原因となる残留DCに対して液晶層内のイオンの挙動をモデル化し、このモデルに対する検証を行った。その結果、電圧保持率の低下に対しては、液晶層中に含まれるイオンの量、電気量、移動度の積である導伝率σを用いて説明することができ、残留DCに対しては、配向膜に吸着されたイオンの量と電気量の積によって説明することができることを示した。また、今回の実験範囲においては、吸着されたイオンの量は液晶層中のイオンの量と比例関係にあり、液晶層中のイオン量と残留DCとの間に相関が得られた。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1997-01-23
著者
-
中園 祐司
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
沢田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
苗村 省平
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
一ノ瀬 秀男
メルク・ジャパン
-
苗村 省平
メルク(株)液晶事業部厚木テクニカルセンター
-
苗村 省平
メルク・ジャパン(株)、厚木テクニカルセンター
-
沢田 温
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
-
澤田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
-
一ノ瀬 秀男
メルク
-
澤田 温
メルク・ジャパン(株)
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