高密度高均一量子ドットを用いた量子ドットレーザ(半導体レーザ関連技術, 及び一般)
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概要
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我々は高密度な量子ドットを用いた量子ドットレーザの研究を行っている。As_2分子線と組成傾斜歪み緩和層を用いることで, 量子ドット密度の1.0×10^<11>cm^<-2>を超える高密度化を実現した。また, 併せてPL半値幅22meVの均一化も実現した。さらに高密度化と高均一化が実現した量子ドットからPL測定により基底準位の発光強度増強も確認できた。この高密度かつ高均一な量子ドットを用いた半導体レーザを製作し, 高反射膜ミラー構造無しでもレーザ発振を実現した。また, 一層当たり8cm^<-1>を超える大きなモード利得を得たので報告する。この結果は量子ドットを高密度かつ高均一にしたためであり, 通信用量子ドットレーザの実用化に向けて大きな成果と考えている。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-12-02
著者
-
小森 和弘
産業技術総合研究所
-
小森 和弘
産総研、CREST-JST
-
小森 和弘
(独)産業技術総合研究所 光技術研究部門 光電子制御デバイスグループ:科学技術振興機構 戦略的創造研究推進事業 Crestタイプ
-
菅谷 武芳
産業技術総合研究所
-
天野 建
産業技術総合研究所光技術研究部門
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菅谷 武芳
産業技術総合研究所光技術研究部門
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小森 和弘
産業技術総合研 光技術研究部門
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天野 建
産業技術総合研究所
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