TFT-OLEDにおける電流均一化時間階調方式の特性劣化耐性 : 回路シミュレーションによる評価結果と考察(半導体Si及び関連材料・評価)
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概要
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薄膜トランジスタ有機ELディスプレイ(TFT-OLED)の電流均一化時間階調方式における特性劣化耐性を評価する.電流均一化時間階調方式は, 原理上, TFTの移動度が低下したときでも有効であることに気づいた.そこで, TFTの移動度が劣化したときの耐性を回路シミュレーションにより確認する.移動度が20cm^2/V・sの場合において, プログラム期間では, 0.8%の充電誤差, リプロデュース期間では6.6%の突抜誤差であり, この移動度でも十分駆動可能であることがわかる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-12-14
著者
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