SC-7-4 電磁界シミュレーションを用いた低損失オンチップ整合回路用Si基板の基板抵抗率の検討
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-08-29
著者
-
末松 憲治
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
-
高木 直
三菱電機株式会社
-
中島 健介
三菱電機(株)情報技術総合研究所
-
中島 健介
三菱電機株式会社
-
石田 修己
韓国情報通信大学工学部
-
伊山 義忠
三菱電機株式会社鎌倉製作所
-
石田 修己
三菱電機株式会社
-
石田 修己
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
-
小野 政好
三菱電機株式会社
-
末松 憲治
三菱電機株式会社
-
久保 俊次
三菱電機株式会社 情報技術総合研究所
-
伊山 義忠
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
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