外部端子情報を用いた発振故障診断手法の検討
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概要
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アナログ集積回路において,寄生素子の存在により起こる発振故障について,その診断手法を検討する.対象回路は発振時において,その発振信号に対してR,L,CおよびVCCSからなる線形回路として表現可能なものとし,正常時のトポロジー,各素子値(トランジスタのトランスコンダクタンス等は除く)は既知とする.このとき,観測される発振周波数,外部端子電圧,電流情報から,発振の原因となる寄生素子の位置,種類等の候補を列挙する問題を考える.回路の既知情報および観測情報から,寄生素子の値,回路中の未知素子値を変数とする制約条件式を得る.回路中の未知素子値は主にトランジスタ等の素子値であり,発振状態においてはその非線形性のために設計値(既知)とは異なる値をもつために未知数としている.この制約条件式は非線形連立方程式となり,故障診断問題を,ある領域内での非線形連立方程式の解の存在性を調べる問題に帰着させる.更に,この非線形方程式が1次同次方程式となることを示し,この1次同次方程式を満足する空間が超直角双曲面となることを示す.これより,超直角双曲面同士の交差を効率的に判定することで解の存在性を調べ,故障診断を効率的に実行する手法を提案する.
- 1993-11-25
著者
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