スペクトル干渉による増幅パルスのキャリアエンベロープ位相変化のシングルショット計測
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概要
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増幅した超短光パルスを自己位相変調によりスペクトル広帯域化させ、基本波と第2高調波の等しい周波数成分のスペクトル干渉を観測することで、キャリア・エンベロープ位相の情報をシングルショットで計測する手法を提案し、実験を行った。この方法により、パルスごとのキャリア・エンベロープ位相の変化を評価することができる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-06-08
著者
-
高橋 英郎
芝浦工業大学
-
小林 洋平
産業技術総合研究所
-
小林 洋平
産業技術総合研
-
本間 哲哉
芝浦工業大学工学部
-
鳥塚 健二
産業技術総合研究所
-
欠端 雅之
産業技術総合研究所
-
高田 英行
産業技術総合研究所
-
高田 英行
独立行政法人 産業技術総合研究所
-
藤平 好彦
芝浦工業大学
-
鳥塚 健二
電総研
-
欠端 雅之
産業技術総合研究所光技術研究部門
-
小林 洋平
電子技術総合研究所
-
高橋 英郎
芝浦工大
-
鳥塚 健二
産業技術総合研究所光技術研究部門
-
鳥塚 健二
独立行政法人産業技術総合研究所 光技術部門 超短パルスレーザーグループ
-
本間 哲哉
芝浦工業大学
-
高田 英行
産業技術総合研
-
欠端 雅之
産業技術総合研
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