エレクトロマイグレーション試験例
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概要
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最近の電子機器においては、特に製品の安全性確保が重要な課題である。安全を確保するための重要な部品として、温度ヒューズが使用される。温度ヒューズには安全動作機能に併せて高信頼性も要求される。筆者等は、市場において故障が発生した温度ヒューズの原因究明及び信頼性を評価するため故障解析と信頼性評価試験を行った。対象の温度ヒューズの可溶体はSn-In系金属を使用したものである。試験により発生した断線故障のメカニズムがエレクトロマイグレーションによること及びその加速要因が温度及び電流によるものであることが明らかとなったので、その結果について報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-06-06
著者
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井原 惇行
日本大学大学院
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徳永 京一
日本電気株式会社品質推進部
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徳永 京一
日本電気株式会社
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井原 惇行
日本電気(株)cs品質推進部
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井原 惇行
日本電気株式会社 CS品質推進部
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篠田 進
日本電気株式会社ブロードバンドネットワーク事業本部光デバイス事業部品質保証部
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