偏光軟X線吸収分光による有機分子線蒸着法で成膜したα-Sexithienylの分子配向に関する研究
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概要
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Ag基板上に,有機分子線蒸着法により成膜したα-セクシチェニル(6T)薄膜の分子配向を,シンクロトロン放射光を用いた偏光軟X線吸収分光法により調べた。C-K吸収端近傍X線吸収構造(XANES)スペクトルのX線入射角度依存性から,6T分子は分子軸を基板表面から約70°傾けて配向しているが分かった。この結果は,赤外高感度反射吸収分光法による結果と一致していた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-09-09
著者
-
関 一彦
名大院理
-
荒木 暢
名大理
-
大内 幸雄
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
-
岡島 敏浩
九州シンクロトロン光研究センター
-
関 一彦
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
-
関 一彦
名古屋大学大学院
-
蔵田 哲之
三菱電機株式会社先端技術総合研究所
-
石井 久夫
千葉大学先進科学研究教育センター
-
成岡 覚
名大理
-
谷村 佐知子
三菱電機(株)
-
上原 康
三菱電機先端総研
-
浜野 浩司
三菱電機先端総研
-
岡島 敏浩
三菱電機材料デバイス研究所
-
成岡 覚
名古屋大学理学部
-
谷村 佐知子
三菱電機材料デバイス研究所
-
浜野 浩司
三菱電機材料デバイス研究所
-
蔵田 哲之
三菱電機材料デバイス研究所
-
上原 康
三菱電機材料デバイス研究所
-
荒木 暢
名古屋大学理学部
-
石井 久夫
名古屋大学理学部
-
中原 弘雄
埼玉大学理学部
-
小蒲 哲夫
三菱電機材料デバイス研究所
-
肥塚 裕至
三菱電機材料デバイス研究所
-
小蒲 哲夫
三菱電機(株)材料デバイス研究所
-
中原 弘雄
埼玉大学理学部基礎化学科
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