岡島 敏浩 | 九州シンクロトロン光研究センター
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概要
関連著者
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岡島 敏浩
九州シンクロトロン光研究センター
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小林 英一
九州シンクロトロン光研究センター
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関 一彦
名大院理
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関 一彦
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
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関 一彦
名古屋大学大学院
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馬場 文明
三菱電機先端総研
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荒木 暢
名大理
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原 一広
九州大学大学院工学研究院エネルギー量子科学部門
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山本 雅人
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
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石井 久夫
千葉大学先進科学研究教育センター
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成岡 覚
名大理
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上原 康
三菱電機先端総研
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浜野 浩司
三菱電機先端総研
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岡島 敏浩
三菱電機先端総研
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石井 久夫
名大理
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大内 幸雄
名大理
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関 一彦
名大理
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大内 幸雄
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻
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Williams James
The Australian Nat'l Univ.
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香野 淳
福岡大理
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蔵田 哲之
三菱電機株式会社先端技術総合研究所
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小林 英一
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
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奥平 幸司
千葉大学工学部
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奥平 幸司
千葉大工
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山本 雅人
名古屋大学医学部附属病院 検査部
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梅津 郁朗
甲南大理
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馬場 文明
三菱電機(株) 先端技術総合研究所 環境・分析評価技術部
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蔵田 哲之
三菱電機先端技術総合研究所
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浜野 浩司
三菱電機先端技術総合研究所
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谷村 佐知子
三菱電機(株)
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蔵田 哲之
三菱電機先端総研
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山本 知之
早大理工
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馬場 文明
三菱電機(株)
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黒川 博志
三菱電機先端総研
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岡島 敏浩
三菱電機材料デバイス研究所
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成岡 覚
名古屋大学理学部
-
谷村 佐知子
三菱電機材料デバイス研究所
-
浜野 浩司
三菱電機材料デバイス研究所
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蔵田 哲之
三菱電機材料デバイス研究所
-
上原 康
三菱電機材料デバイス研究所
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荒木 暢
名古屋大学理学部
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石井 久夫
名古屋大学理学部
-
中原 弘雄
埼玉大学理学部
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小蒲 哲夫
三菱電機材料デバイス研究所
-
肥塚 裕至
三菱電機材料デバイス研究所
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日下部 泰之
早大理工
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中西 哲也
三菱電機先端総研
-
中西 哲也
三菱電機先端技術総合研究所
-
寺本 和良
三菱電機(株)先端総研
-
岡島 敏浩
三菱電機(株)先端総研
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Bob Brion
Harvard Univ.
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Charnvanichborikarn Supakit
The Australian Nat'l Univ.
-
Warrender Jeffrey
U.S. Army-Benet Lab.
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Aziz Michael
Harvard Univ.
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川島 由匡
早大理工
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小蒲 哲夫
三菱電機(株)材料デバイス研究所
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香野 淳
福岡大学
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中原 弘雄
埼玉大学理学部基礎化学科
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寺本 和良
三菱電機(株)先端技術総合研究所
-
寺本 和良
三菱電機(株)材料デバイス研究所
-
関 一彦
名古屋大学物質科学国際研究センター
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Charnvanichborikarn Supakit
The Australian Nat'l Univ.
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梅津 郁朗
甲南大学
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Aziz Michael
Harvard School Of Engineering And Applied Sciences
著作論文
- X線吸収端近傍微細構造分光法及び赤外反射吸収分光法によるポリブチレンテレフタレートの紫外線表面改質に関する研究
- X線吸収端近傍微細構造分光法及び赤外反射吸収分光法によるポリブチレンテレフタレートの紫外線表面改質に関する研究
- 金属上のチオフェン6量体の配向と界面構造
- 偏光軟X線吸収分光による有機分子線蒸着法で成膜したα-Sexithienylの分子配向に関する研究
- 21aYK-7 In_2O_3 : (Mn,Fe)における磁性元素の局所環境解析(21aYK 磁性半導体,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 31a-YC-12 MELCO-SRを利用した軟X線ビームラインの構築
- 紫外線照射したPBT表面のNEXAFS, XPSによる解析
- 27aPS-53 カルコゲン過飽和ドープによるSi光吸収の異常増大(領域5ポスターセッション,領域5,光物性)
- 放射光の分析化学への応用 : 動き始めた九州シンクロトロン光研究センター
- 第18回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム報告
- 放射光軟X線を用いた軽元素の化学結合状態解析
- 27pPSA-40 NEXAFS分光法によるPTFE薄膜の分子配向の温度依存性(27pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 放射光軟X線を用いた軽元素の化学結合状態解析
- Analysis of Chemical Bonding State of Light Elements by Using Soft X-ray with Synchrotron Radiation
- 26pPSB-12 NEXAFS分光法による酸化マグネシウムの表面とバルクの同時測定(26pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 27pPSA-21 軟X線吸収分光法と光電子分光法を用いた酸化マグネシウム微粒子の研究(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))