n-ヘキサン中における開離時アーク特性と接触信頼性についての検討
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概要
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著者らは、液体誘電体中における電気接点接触信頼性について電極消耗量、接触抵抗特性の両面から実験的検討を行ってきた。その結果、低電流負荷時のn-ヘキサン中において最も有効であることがわかったが、フラット***ージョンの効果で電極消耗量が抑えられるのはAg接点だけで、Pd接点は大きく消耗してしまうなどの疑問点も残っていた。 そこで今回、アーク継続時間に着目して実験を行ったところ、両者で経時変化傾向が大きく異なるなどの特性が明らかとなったので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-06-18
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