エッジ斜面の濃淡値モデルに基づいたサブピクセル精度エッジ検出法
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概要
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- 1998-03-06
著者
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溝口 正典
日本電気(株)情報メディア研究所
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溝口 正典
Nec C&cメディア研
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溝口 正典
Nec C&cメディア研究所
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斯波 尚志
NEC C&Cメディア研究所
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斯波 尚志
Nec C&cメディア研究所
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