マイクロ波におけるメタライズ層と誘電体基板界面の導電率測定
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-03-06
著者
-
内村 弘志
京セラ株式会社総合研究所
-
郡山 慎一
京セラ(株)総合研究所
-
郡山 慎一
京セラ株式会社 総合研究所
-
中山 明
京セラ(株)
-
中山 明
京セラ株式会社 総合研究所
-
北澤 謙治
京セラ(株)総合研究所
-
北澤 謙治
京セラ株式会社総合研究所
-
竹之下 健
京セラ株式会社総合研究所
-
内村 弘志
京セラ 総研
-
中山 明
京セラ株式会社
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