誘電体円板を装荷した空洞共振器による準マイクロ波帯の複素誘電率測定法

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

• 本論文では, 2GHzにおける誘電体材料の複素誘電率の非破壊測定法について述べる. 本研究で使用した共振器は, 45の比誘電率ε'を有する誘電体円板を左右対称に装荷した空洞共振器である. 空洞共振器は中央で分割され, その間に基板状の測定試料が挟持される. 試料の比誘電率ε'と誘電正接tanδはTE_<011>モードの共振周波数と無負荷Qから計算される. 様々な材料のε'とtanδを測定し, 他の空洞共振器による3, 10GHzの値と比較, 検討した. 本方法の測定誤差はε'においては1%以下, tanδにおいては2〜3×10^<-5>である.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1996-02-28

著者

• 中山 明

  京セラ(株)

• 中山 明

  京セラ株式会社 総合研究所

• 西村 道明

  京セラ株式会社 総合研究所

• 西村 道明

  京セラ株式会社

• 福浦 篤臣

  京セラ株式会社総合研究所

• 福浦 篤臣

  京セラ株式会社 総合研究所

• 福浦 篤臣

  京セラ(株)総合研究所

• 中山 明

  京セラ株式会社

関連論文

• マイクロ波におけるメタライズ層と誘電体基板界面の導電率測定
• C-2-68 TE_モード円筒空洞共振器の軸対称性の破れによる異方性誘電率評価の検討(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般講演)
• 導体と誘電体の界面における導電率の周波数依存性の測定(次世代電子機器における先端実装技術と電磁波ノイズ低減技術論文)
• C-2-61 銅張り有機基板における界面導電率の周波数依存性の測定(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般講演)
• C-2-46 S_測定による強誘電体材料のマイクロ波誘電分散評価の検討(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
• C-2-69 60GHz帯における空洞共振器を用いた界面導電率測定法の検討(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般講演)
• C-2-43 空洞共振器による誘電体薄膜のマイクロ波複素誘電率測定の検討(C-2. マイクロ波B(受動デバイス), エレクトロニクス1)
• C-2-42 空洞共振器の端に装荷された誘電体基板上薄膜試料のミリ波誘電特性測定法の検討(C-2. マイクロ波B(受動デバイス), エレクトロニクス1)
• C-2-52 絞り導体付き空洞共振器の端に装荷された平板試料のミリ波複素誘電率測定法の検討(C-2. マイクロ波B(受動デバイス), エレクトロニクス1)
• C-2-84 空洞共振器の端に装荷された平板試料のミリ波複素誘電率測定法の検討(C-2.マイクロ波B(受動デバイス))
• SCE2000-27 / MW2000-91 NRDガイド励振誘電体共振器による77GHz複素誘電率測定
• SCE2000-27 / MW2000-91 NRDガイド励振誘電体共振器による77GHz複素誘電率測定
• PC-1-4 NRDガイド励振誘電体円柱共振器法
• NRDガイド励起誘電体共振器によるミリ波導電率と複素誘電率測定
• 誘電体円板を装荷した空洞共振器による準マイクロ波帯の複素誘電率測定法
• 誘電体円板を装荷した空洞共振器による準マイクロ波帯の複素誘電率測定法
• 誘電体円板を装荷した空洞共振器による準マイクロ波帯の複素誘電率測定法
• PEEC (Partial Element Equivalent Circuit) 法によるパッケージのインダクタンス周波数解析
• 3B17 球状欠陥を有する窒化ケイ素材料の強度推定
• CK-1-5 マイクロ波・ミリ波帯における低損失誘電体材料の複素誘電率測定法(CK-1.マイクロ波・ミリ波材料測定法の標準化,ソサイエティ企画)
• 材料定数の新しい高周波測定方法--メタライズ膜と同時焼成されたLTCCの特性評価 (特集 マイクロ波・ミリ波誘電体)
• 高周波誘電率の測定技術
• 小粒径深侵入条件における薄膜源からの粒界拡散
• PCにおける時刻精度の精密計測とその評価(NW性能管理,品質とコスト,品質と感性,一般)
• PCにおける時刻精度の精密計測とその評価(NW性能管理,品質とコスト,品質と感性,一般)
• PCにおける時刻精度の精密計測とその評価(NW性能管理,品質とコスト,品質と感性,一般)
• 空洞共振器を用いた誘電体薄膜のミリ波帯における誘電特性測定
• 空洞共振器を用いた誘電体薄膜のミリ波帯における誘電特性測定

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク