高温超伝導体の高精度表面抵抗測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-03-07
著者
-
佐藤 史朗
山形大学工学部電子情報工学科
-
岡井 大祐
姫路工業大学工学部
-
岡井 大祐
山形大学 工学部 電子情報工学科
-
稲童丸 桃子
山形大学 工学部 電子情報工学科
-
佐藤 史朗
山形大学 工学部 電子情報工学科
-
楠 正暢
山形大学 工学部 電子情報工学科
-
向田 昌志
山形大学 工学部 電子情報工学科
-
大嶋 重利
山形大学 工学部 電子情報工学科
-
稲童丸 桃子
山形大学工学部
関連論文
- MgO基板上TFA-MOD薄膜作製用バッファ層の検討
- 酸化物高温超伝導薄膜作製に対する誘導コイル結合型スパッタリング法の検討
- プローブ結合型マイクロストリップ共振器法によるBi-Sr-Ca-Cu-Oウィスカの表面抵抗測定
- プローブ結合型マイクロストリップ線路共振器法による線状試料の表面抵抗測定の一検討
- 永久磁石を用いた非接触型臨界電流密度測定システムIII
- 第三高調波解析による臨界電流密度Jcの測定と評価
- 高温超伝導体の高精度表面抵抗測定
- 高温超伝導体の高精度表面抵抗測定
- 誘導結合プラズマスパッタリング法によるマイクロ波デバイス用YBa_2Cu_3O_y薄膜の作製と評価
- プローブ結合型マイクロストリップ線路共振器法による超伝導薄膜の表面抵抗測定
- C-8-10 マイクロストリップ線路共振器を用いた表面抵抗の測定 : cavity損の検討
- プローブ結合型マイクロストリップ線路共振器法による表面抵抗の測定精度に関する検討 : 測定精度に与えるキャビティの形状効果
- プローブ結合型マイクロストリップ線路共振器法による表面抵抗の測定精度に関する検討 : 測定精度に与えるキャビティの形状効果
- C-8-9 プローブ結合型マイクロストリップ線路共振器法による表面抵抗の測定 : 測定精度に与えるCavityの形状効果
- マイクロストリップ線路共振器法による表面抵抗の測定に関する一検討
- マイクロストリップ線路共振器法による表面抵抗と磁場侵入長の測定 : 測定精度に与える膜厚効果の検討
- マイクロストリップ線路共振器法による表面抵抗と磁場侵入長の測定 : 測定精度に与える膜厚効果の検討
- 表面抵抗Rs測定のためのマイクロストリップ線路共振器法の検討
- 分布定数型超伝導フィルタの設計と最適形状の検討
- 分布定数型超伝導フィルタの最適形状の検討
- 分布定数型超伝導フィルタの最適形状の検討
- 種々の基板上に作製したBaF_2を含む前駆体膜の減圧酸素処理によるYBCO膜の結晶配向
- 均質化したRE123系PLD薄膜のマイクロ波特性
- APC導入型123系超伝導薄膜の臨界電流密度特性(1)
- 小面積超伝導膜の表面抵抗測定法に関する研究
- マイクロ波デバイス用各種バッファ層上のYBa_2Cu_3O_薄膜の結晶性
- YBCO薄膜の臨界電流密度と表面抵抗の相関
- 液体窒素冷却による表面抵抗測定装置の試作とそれを用いた表面抵抗の測定
- 正確な表面抵抗測定のための誘電体共振器法の検討