垂直二層膜媒体における逆磁区ノイズの線密度依存性とエラーレート特性への影響(信号処理及び一般)
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概要
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CoPtCr-SiO_2垂直磁気記録媒体におけるメディアノイズを時間軸解析により転移ジッタノイズ,転移幅変動ノイズ,逆磁区ノイズに分離した.逆磁区ノイズは転移近傍では小さいため,その電力は線密度に対し直線的に減少し,高密度でのSN比は転移性ノイズによって決定されることが定量的に確かめられた.SiO_2を多く添加した媒体は角型比の低下から逆磁区ノイズは増大し低線密度でのSN比は低いが,粒径と粒間交換結合の低減により転移ジッタノイズが低減し高線密度でのSN比は高い結果が得られた.また,エラーレートを決定しているパラメータは転移ジッタであり,SiO_2の添加量が多い媒体ほどエラーレート特性は向上していた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-12-03
著者
-
青井 基
東北大学電気通信研究所
-
村岡 裕明
東北大学電気通信研究所
-
三浦 健司
東北大学電気通信研究所
-
中村 慶久
東北大学電気通信研究所
-
関 健太
東北大学電気通信研究所
-
橋本 光弘
東北大学電気通信研究所
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