垂直二層膜媒体における逆磁区ノイズの線密度依存性とエラーレート特性への影響
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概要
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- 映像情報メディア学会の論文
- 2004-12-10
著者
-
青井 基
東北大学電気通信研究所
-
村岡 裕明
東北大学電気通信研究所
-
三浦 健司
東北大学電気通信研究所
-
中村 慶久
東北大学電気通信研究所
-
関 健太
東北大学電気通信研究所
-
橋本 光弘
東北大学電気通信研究所
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