EMCJ2000-31 平行2線のマイクロストリップ線路のダイオード負荷のC-V特性を考慮した遠端クロストーク
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概要
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電子機器の動作クロックはますます高速化する傾向にあり、それと同時に低電圧化も進んでいる.その結果, 機器の誤動作を生じるクロストーク信号が発生しやすくなる.このクロストーク信号の抑制を目指して, 非線形素子を負荷とした場合の遠端クロストーク波形を測定し, あわせてシミュレーションを行った.信号線路として平行2線のマイクロストリップ線路を使用し, 負荷としてはシリコンダイオードと可変容量ダイオードを使用した.遠端クロストーク波形の実験結果とC-V特性を考慮した遠端クロストーク波形のシミュレーション結果を比較したところ, C-V特性の変化が遠端クロストーク波形に大きな影響を与えることを確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-07-14
著者
-
野口 泰明
防衛大
-
野口 泰明
防衛大学校 応用物理工学
-
松元 藤彦
防衛大学校 応用物理学科
-
松元 藤彦
防衛大学校
-
野口 泰明
防衛大学校 応用物理学科
-
野口 泰明
防衛大学校
-
平尾 彰宣
防衛大学校 応用物理学科
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