静電気放電に伴う過渡電磁界の特性解析
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概要
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静電気放電(ESD)による電磁干渉レベルはESD電圧には必ずしも比例せず,低電圧ESDのほうがハイテク情報機器に重大な障害を与える場合が多い.この現象を理論的に検討する目的で,本論文はESDに伴う過渡電磁界の特性解析を行っている.火花抵抗に関するRompe-Weizelの式を用いた新しいESDモデルを提案し,それによる発生電磁界の数値結果をWilsonとMaの実験データと比較している.ここで述べたESDモデルの妥当性を確認するために,間接ESDのモデル実験も行っている.
- 1994-12-09
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